 半導体・メモリ基板検査装置 |
DRAM基板（SIMM）検査器 |
| OTP(ワンタイムROM) 基板検査装置(DIMM） | |
| SRAM基板検査装置 | |
| フラッシュメモリ基板（DIMM）書込み検査装置 | |
 高圧検査装置 |
600V IGBT検査装置（インライン） |
| 2000V IGBT検査装置（自動カーブトレーサ） IGBTに０〜２０００Ｖの電圧印加し、ＶCES, Igeoの特性検査装置 |
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| 5000V平型高温印加装置 MAX300℃の温度下でMAX５０００Ｖを素子に印加し耐圧耐熱特性試験装置 |
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 光学測定検査装置 |
LED光量測定器 |
 その他 |
SCSIインタフェイス基板自動検査装置 |
| 基板判定後のレーザマーカによる刻印ライン（ＰＣ管理） | |
| 建設メーカー向け扉開閉耐久試験装置 | |
| 基板検査用ハンドプレスユニット |
 半導体メモリ基板検査装置 |
EEPROM(電気的消去可能ROM)基板書込み/検査装置 装置とPCをRS−２３２Cにて接続し、EEPROM へのデータ転送、 書き込み、読み出しが可能。 |
 光学測定検査装置 |
CIS（密着イメージセンサ）測定・検査・評価試験装置 |
| CIS樹脂コート製造ライン検査装置 | |
| LCDバックライト照度測定/検査装置 | |
| CCD(カラーリニアイメージセンサ)測定/検査装置 | |
| 導光体調整検査器 |
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| ライン光源照度検査装置（3台自動検査） | |
| ハンドスキャナ自動検査装置（家庭用FAX読取り部） | |
 その他 |
レーザマーカ制御ライン一式 基板判定後のレーザーマーカ制御ライン一式 |
| ファンクショントリミング検査装置（インライン） パワー素子の特性測定を行いながらパターンをレーザーでカットし特性自動調整するファンクション検査設定装置 |
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| 10ch高抵抗測定ロードセル検査装置（PCデータ管理） | |
| 300chワイヤーハーネス低抵抗測定装置（PCデータ管理） |
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NVPROMモジュール基板にデータの書込み・読み出しを行うことにより良否判定を行います。 |
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トランジスタ基板を動作させながら基板上部品に最適の定数を計算・表示します。 |
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ターゲット基板に電源を与え、出力電圧を測定して合否を判定します。 ハンドプレス部にはハンドルロックを装備し、検査終了後放電処理を行い残留電圧０．３V以下になるまでロックは解除されません。 |
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ＬＥＤ基板を駆動してＶｆ、Ｖｒ、点灯確認などを行う検査装置です。 検査データはＲＳ−２３２ＣにてＰＣに送信され、トレーサビリティーデータとして 保管します。 |
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ＣＣＤ・ＣＣＤ駆動用ＰＬＤなどを実装した基板の動作検査装置です。 ターゲットに駆動信号・電源などを与え、出力データを取り込んでグラフ化します。 出力データより各特性を演算し、ＯＫ／ＮＧの判定を行います。 |
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多チャンネルインピーダンスの測定を行う装置です。 ＰＣによりＬＣＲメータ・弊社製スキャナＢＯＸをコントロールし、ターゲット各チャンネルの容量測定を行い、あらかじめ設定された規格値を外れるとＮＧ判定を行います。 |
